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產(chǎn)品中心輻射及安全防護(hù)設(shè)備輻射檢測(cè)儀
產(chǎn)品分類
FJ1200手持式環(huán)境級(jí)x γ輻射測(cè)量?jī)x 輻射類型：χ，γ 探 測(cè) 器 ：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體 測(cè)量范圍：0.01 -200μSv/h 固有誤差：小于± 15% 能量響應(yīng)： 40 keV -3 MeV 靈敏度：大于1500CPS/μSv/h
供應(yīng)FJ1600手腳表面污染檢測(cè)儀 探測(cè)器：6個(gè)ZnS+塑閃探測(cè)器 測(cè)量類型：α/β 探測(cè)效率（2π，面源，保護(hù)網(wǎng)格表面）： α（239Pu）：手部≥20%，腳部≥20% β（90Sr-90Y ）：手部≥15%，腳部≥15%
法國(guó)MGP PDS-100GNID手持式γ射線檢測(cè)儀 PDS-100GNID可裝在口袋里的設(shè)備設(shè)計(jì)用來探測(cè)、定位、定量和當(dāng)場(chǎng)識(shí)別放射源以區(qū)分開天然發(fā)生放射性物質(zhì)主要醫(yī)用核素與工業(yè)源或特殊核材料。高靈敏度可在更短時(shí)間內(nèi)提供更好的光譜。 它可充分滿足新的 ANSI（美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化組織） N42-48 標(biāo)準(zhǔn)的要求。
德國(guó)伯托LB200便攜式γ 放射性活度檢測(cè)儀 LB200 型便攜式γ 放射性活度測(cè)量、分析系統(tǒng)，采用NaI（Tl）閃爍體探測(cè)器，可測(cè)量食品、液體、松散材料的γ 放射性污染，以Bq/l 為單位刻度并表示。LB200 用微處理器進(jìn)行自檢。接通以后就可以自動(dòng)自檢。探測(cè)器故障、脈沖溢出和電量低等也都可以顯示出來。
白俄羅斯PM1703M便攜式個(gè)人輻射巡檢儀 Polimaster個(gè)人輻射探測(cè)儀PM1703M γ射線檢測(cè)儀和PM1703MA γ射線檢測(cè)儀被設(shè)計(jì)用來放射檢測(cè)和定位輕微的放射性痕跡和核材料。儀器的兩種操作模式允許客戶基于輻射強(qiáng)度搜索γ輻射源和評(píng)估輻射水平。
美國(guó)熱電FH40G手持式多功能輻射檢測(cè)儀 FH40G 探測(cè)儀是一種非常容易使用的數(shù)字型測(cè)量?jī)x，適用于測(cè)量劑量率和輻射污染。其多用途系統(tǒng)可完成幾乎所有的輻射防護(hù)測(cè)量工作，并達(dá)到各 類操作要求。眾多外部探測(cè)器可以與探測(cè)儀連接，測(cè)量受輻照影響的區(qū)域或 員工的α、β、γ污染水平，并保留所有校準(zhǔn)參數(shù)。
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